E680不开机故障现象：加电漏电40mA
测量：用万用表测量B+的对地电阻值短路，因为E680的PA与Triplets系列的PA相同都是Eagle IC，所以先摘下U50，但是B+还是短路。B+在PCAP2中产生其它电源，所以怀疑U900坏，取下U900测量但阻值仍为0Ω，其它元件用B+的也没有几个，继续摘下U300故障依旧，最后摘Q901后故障排除。B+阻值正常了，装上U900后加电开机瞬间电流在400mA以上，再测量电源负载电路的各个阻值，VAD_SD对地短路，此电压是B+供电，PCAP2的B10#控制产生的，供给J602的4#，然后发现J602的4#变形损坏与地相连，所以换J602一切故障排除。
分析：由于J602的4#短路造成VAP_SD短路，烧坏Q901导致B+对地短路
一 . 不开机
A. 大电流400mA以上不开机，并且不回落。
分析：大电流不开机一般多为元器件击穿所致。首先我们先是测量B+电压是否对地，
我们可以通过对地测阻值法，进行测量判断。同样我们还可以用手去感觉手机主板上元件的发热情况来判断元件的损坏。一般易损坏的元器件为PA、电源、U600等。
B. 开机电流200至300mA
这种现象电源负载电路出现故障较多，我们可以对电源的各路负载供电进行测量，
比较常见的有VAB-IO（2.755V）、VCC-IO（2.755V），VRF-TXRX（2.775V）、VAB-MEM（2.75V）
这几路电压为逻辑部分供电或射频部分供电。通过测量各路电压的正常与否来进行排查。
VAB-IO与VAB-MEM为CPU、U300、U400供电。VRF-TX、VRF-RX为U130、中频供电。
一般易损坏的元器件为U300，U400，U110，U130等
C. 按开机键电流在80-180mA之间跳变。
按开机键电流在80-180mA之间跳变，通过USB口与电脑不能正常连机，装屏显示花屏，一般手机的BP部分正常，手机故障应为AP部分问题。按双侧键和开机键进行强制连机写软件。如果无效，则需更换U400。U400芯片同以往芯片不同，分上下俩部分，我们可以单独更换以节约成本。
D. 加电70mA且USB不连机。加电漏电70mA左右，一般多为U600-1损坏。
E.不开机加直流电源有40mA电流，检测U900部分的Y900的32.768K,有震荡波形输出；再测U900发出的电压，V-Boost,5-6V,VAB-MEM,1.875V，VAB-IO，2.75V，VAP-CORE，1.1V及VAP-PLL，1.275V等，均有电压输出，说明U900已正常工作。再测U600部分的32.768K（在Y600处可测得）及C602处的13MHZ均无。说明U600没有正常工作。首先测量Y600两脚对地阻值，正常。加电再测Y600两脚电压，发现Y600处的C601的电压为1.0V，高于正常值0.5V，说明Y600没有工作。换一新的Y600（32.768K）手机正常工作。
F.按关机键不关机：按照原理测量，U908第1脚、第6脚电压变化正常，第3脚电压变化正常、第4脚电压变化不正常，4脚电平总是在高电平，所以AP部分不能工作正常，怀疑U908非有问题，更换U908后，4脚电平恢复正常，关机正常。
G.按开机键不开机：J600第3脚为POWER_KEY信号，该信号通过U908的第1脚并且连接到U900(PCAP)的J12点，用来作为触发电源模块工作的开机信号。与此同时，U908通过非门电路由Power_key信号产生Power_key_AP信号控制Bulverde，使PDA部分开启。同时，由U900产生POWER_FAIL通过U908第3脚入，经非门4脚出，提供给AP部分，作为U900反馈给AP的开机状态信号。测量U908第1脚、第6脚电压变化正常，第3脚、第4脚电压变化也正常，此时怀疑AP部分未能识别到POWER_FAIL信号，导致AP部分不能正常工作，从而导致PCAP不能正常工作，不开机。对有问题主板更换U600后，开机正常
维修实例：大电流3A左右，测量BATT＋。B＋，VAB＿IO对地短路，首先取下VS902后，电流仍然很大，BATT＋与B＋都短路，一般是U900的原因，取下U900后，还有些漏电，加电140mA。测量BATT＋对地阻值27KΩ，B＋阻值40KΩ。这时只有充电电路的元件与其有关，首先取下D205与Q252两元件，BATT的对地阻值还是很小，当取下与BATT＋＋连接的D203之后，测量BATT＋的阻值正常，说明故障就出在Q256与Q255之间。取下Q255之后，BATT＋阻值正常了，也不漏电了，只有VAB＿IO短路，换一套U800 U801，写完软件，试机正常问题解决。
二. E680漏电
E680加电漏电30mA,其他功能正常。
首先怀疑BATT+漏电，用万用表测C282处对地阻值正常。再测B+C256处对地阻值正常，测B+电压也正常，当测量D204与Q251相连的一脚电压时发现有1.3V左右电压，而测正常机此处为0.3V左右。于是摘D204，加电故障依旧。再测D204与Q251相连处仍有1.3V左右电压，于是摘下Q251。加电，漏电消失。换新的Q251故障排除。
三. E680打不出电话
装卡试机有信号但是打不出去，用RADIO COMM打发射测试，主板的发射功率和频谱都很正常，说明手机的射频部分没问题，初步判断为软件问题或CPU的控制电路问题。重写软件并写入NV值后故障依旧。手机在发射的瞬间发射电流能到达400mA左右（和正常的发射电流是一样的），但是维持不住，很快就又掉了下来，判断供电部分有问题，换U900，问题解决。U900的焊点很小，容易造成虚焊
四. E680显示故障
分析步骤： 检查LCD是否正常检查显示接口是否损坏（对于E680由于材料原因显示接口非常易坏，HUB更换比例达40%。）用示波器测量显示接口各管脚的波形用示波器在J601的26脚,28脚,30脚,32脚测得TSX-1;TSY-1;TSX-2;TSY-2四个信号上都有2.8V电压,而且在用手触屏时,此电压会被拉低,但是触屏时此电压上没数据信号,说明触屏这一动作被识别了,只是无法确定方位.更换U900故障排除。
实例1 : 照相白屏
射像头是与主板上J605接口相连。遇到不照相的故障就要先从接口J605下手，测量TP656 CAMERA-PWR-DMN J605的5# 此电压2.75V 。在待机时为高电平，打开相机时为低电平。TP659 CIF-FV 在加摄相头时开启相机有2.75V。C999 VAP-CAMERA PCAP的R13产生的２.７５V专供相机的工作电压。此机在测量TP659出现问题。开启相机没有2.75V。换U600后解决问题。试机正常。
五.其他故障：
检查卡
A. SIM卡各脚的对地阻值是否正常，如果正常加焊SIM卡座。
B. 更换U600电源。
听筒无音，不送话
A. A780如果手机听筒无音或不送话可先测量其供电及波形是否正常，如不正常更换U600。
B. 更换U300。
不能照相、SD卡不能使用
加焊或更换J403、J404。
加焊或更换U400。
死机定屏，无游戏
开机定屏多为AP部分问题，升级可解决大部。如果做软件无效则需更换U400。
E680蓝牙不能开启
手机接打电话正常，连接蓝牙的时候开启失败，像这样的问题是先写蓝牙值，如故障未排除。
在C453处测量BTRF-REG电压为1.8V，在TP410测量VAB-IO 为2.75V，在Y400处能够测到15.36MHZ，
当测到由U600输出AP-CLK32K-OUT时，在经过R403之后信号消失，测R403阻值无穷大，正常是100K,
换电阻一切正常
A780/E680 不开机维修方法1，大电流，B＋对地短路。⑴可能性最大是功放，拆下功放，
如果可以开机就判断功放被击穿。⑵电源被击穿，拆下电源块，查B＋对地电阻正常，可以判断是它坏。
功放被击穿一般伴随电源也被击穿。
2，加电漏电80mA左右，各电压正常，和电脑不联机，出现检查硬件，一般是PDA的CPU底层部分坏。
3，加电不漏电，按开机键电流到170mA左右回落，直接和电脑不联机，强制进入flash模式，可以和电脑联机，写完软件可以排除故障。如果升级出错，基本是BP出错，用48写入手机部分字库资料，再升级试试，做完软件可以正常开机。
如果升级仍出错，就要换手机部分字库再升级。
4，加电漏电100mA左右，查各路输出电压，发现供给AP部分的CPU的一路电压VAP－CORD（1.1V）无输出，查该电压的振荡电感L902已开路。换一好的电感L902后开机正常。
5，加电漏电240mA,查各路电压正常，手机部分的时钟、复位、片选信号都正常，应该在AP部分的问题，更换AP部分的CPU无效，换U603后正常。
E680不开机维修一例
故障现象：不开机。
维修方法：
1、同时按住下音量键和照相键并加电按开机键，进入flash模式，和电脑联机，但一升级就显示“wait for re-enumeration”，说明BP部分的引导区数据被破坏。
2、拆下手机部分的字库用48写，然后再升级不再报错，升级完手机正常开机。
测量：用万用表测量B+的对地电阻值短路，因为E680的PA与Triplets系列的PA相同都是Eagle IC，所以先摘下U50，但是B+还是短路。B+在PCAP2中产生其它电源，所以怀疑U900坏，取下U900测量但阻值仍为0Ω，其它元件用B+的也没有几个，继续摘下U300故障依旧，最后摘Q901后故障排除。B+阻值正常了，装上U900后加电开机瞬间电流在400mA以上，再测量电源负载电路的各个阻值，VAD_SD对地短路，此电压是B+供电，PCAP2的B10#控制产生的，供给J602的4#，然后发现J602的4#变形损坏与地相连，所以换J602一切故障排除。
分析：由于J602的4#短路造成VAP_SD短路，烧坏Q901导致B+对地短路
一 . 不开机
A. 大电流400mA以上不开机，并且不回落。
分析：大电流不开机一般多为元器件击穿所致。首先我们先是测量B+电压是否对地，
我们可以通过对地测阻值法，进行测量判断。同样我们还可以用手去感觉手机主板上元件的发热情况来判断元件的损坏。一般易损坏的元器件为PA、电源、U600等。
B. 开机电流200至300mA
这种现象电源负载电路出现故障较多，我们可以对电源的各路负载供电进行测量，
比较常见的有VAB-IO（2.755V）、VCC-IO（2.755V），VRF-TXRX（2.775V）、VAB-MEM（2.75V）
这几路电压为逻辑部分供电或射频部分供电。通过测量各路电压的正常与否来进行排查。
VAB-IO与VAB-MEM为CPU、U300、U400供电。VRF-TX、VRF-RX为U130、中频供电。
一般易损坏的元器件为U300，U400，U110，U130等
C. 按开机键电流在80-180mA之间跳变。
按开机键电流在80-180mA之间跳变，通过USB口与电脑不能正常连机，装屏显示花屏，一般手机的BP部分正常，手机故障应为AP部分问题。按双侧键和开机键进行强制连机写软件。如果无效，则需更换U400。U400芯片同以往芯片不同，分上下俩部分，我们可以单独更换以节约成本。
D. 加电70mA且USB不连机。加电漏电70mA左右，一般多为U600-1损坏。
E.不开机加直流电源有40mA电流，检测U900部分的Y900的32.768K,有震荡波形输出；再测U900发出的电压，V-Boost,5-6V,VAB-MEM,1.875V，VAB-IO，2.75V，VAP-CORE，1.1V及VAP-PLL，1.275V等，均有电压输出，说明U900已正常工作。再测U600部分的32.768K（在Y600处可测得）及C602处的13MHZ均无。说明U600没有正常工作。首先测量Y600两脚对地阻值，正常。加电再测Y600两脚电压，发现Y600处的C601的电压为1.0V，高于正常值0.5V，说明Y600没有工作。换一新的Y600（32.768K）手机正常工作。
F.按关机键不关机：按照原理测量，U908第1脚、第6脚电压变化正常，第3脚电压变化正常、第4脚电压变化不正常，4脚电平总是在高电平，所以AP部分不能工作正常，怀疑U908非有问题，更换U908后，4脚电平恢复正常，关机正常。
G.按开机键不开机：J600第3脚为POWER_KEY信号，该信号通过U908的第1脚并且连接到U900(PCAP)的J12点，用来作为触发电源模块工作的开机信号。与此同时，U908通过非门电路由Power_key信号产生Power_key_AP信号控制Bulverde，使PDA部分开启。同时，由U900产生POWER_FAIL通过U908第3脚入，经非门4脚出，提供给AP部分，作为U900反馈给AP的开机状态信号。测量U908第1脚、第6脚电压变化正常，第3脚、第4脚电压变化也正常，此时怀疑AP部分未能识别到POWER_FAIL信号，导致AP部分不能正常工作，从而导致PCAP不能正常工作，不开机。对有问题主板更换U600后，开机正常
维修实例：大电流3A左右，测量BATT＋。B＋，VAB＿IO对地短路，首先取下VS902后，电流仍然很大，BATT＋与B＋都短路，一般是U900的原因，取下U900后，还有些漏电，加电140mA。测量BATT＋对地阻值27KΩ，B＋阻值40KΩ。这时只有充电电路的元件与其有关，首先取下D205与Q252两元件，BATT的对地阻值还是很小，当取下与BATT＋＋连接的D203之后，测量BATT＋的阻值正常，说明故障就出在Q256与Q255之间。取下Q255之后，BATT＋阻值正常了，也不漏电了，只有VAB＿IO短路，换一套U800 U801，写完软件，试机正常问题解决。
二. E680漏电
E680加电漏电30mA,其他功能正常。
首先怀疑BATT+漏电，用万用表测C282处对地阻值正常。再测B+C256处对地阻值正常，测B+电压也正常，当测量D204与Q251相连的一脚电压时发现有1.3V左右电压，而测正常机此处为0.3V左右。于是摘D204，加电故障依旧。再测D204与Q251相连处仍有1.3V左右电压，于是摘下Q251。加电，漏电消失。换新的Q251故障排除。
三. E680打不出电话
装卡试机有信号但是打不出去，用RADIO COMM打发射测试，主板的发射功率和频谱都很正常，说明手机的射频部分没问题，初步判断为软件问题或CPU的控制电路问题。重写软件并写入NV值后故障依旧。手机在发射的瞬间发射电流能到达400mA左右（和正常的发射电流是一样的），但是维持不住，很快就又掉了下来，判断供电部分有问题，换U900，问题解决。U900的焊点很小，容易造成虚焊
四. E680显示故障
分析步骤： 检查LCD是否正常检查显示接口是否损坏（对于E680由于材料原因显示接口非常易坏，HUB更换比例达40%。）用示波器测量显示接口各管脚的波形用示波器在J601的26脚,28脚,30脚,32脚测得TSX-1;TSY-1;TSX-2;TSY-2四个信号上都有2.8V电压,而且在用手触屏时,此电压会被拉低,但是触屏时此电压上没数据信号,说明触屏这一动作被识别了,只是无法确定方位.更换U900故障排除。
实例1 : 照相白屏
射像头是与主板上J605接口相连。遇到不照相的故障就要先从接口J605下手，测量TP656 CAMERA-PWR-DMN J605的5# 此电压2.75V 。在待机时为高电平，打开相机时为低电平。TP659 CIF-FV 在加摄相头时开启相机有2.75V。C999 VAP-CAMERA PCAP的R13产生的２.７５V专供相机的工作电压。此机在测量TP659出现问题。开启相机没有2.75V。换U600后解决问题。试机正常。
五.其他故障：
检查卡
A. SIM卡各脚的对地阻值是否正常，如果正常加焊SIM卡座。
B. 更换U600电源。
听筒无音，不送话
A. A780如果手机听筒无音或不送话可先测量其供电及波形是否正常，如不正常更换U600。
B. 更换U300。
不能照相、SD卡不能使用
加焊或更换J403、J404。
加焊或更换U400。
死机定屏，无游戏
开机定屏多为AP部分问题，升级可解决大部。如果做软件无效则需更换U400。
E680蓝牙不能开启
手机接打电话正常，连接蓝牙的时候开启失败，像这样的问题是先写蓝牙值，如故障未排除。
在C453处测量BTRF-REG电压为1.8V，在TP410测量VAB-IO 为2.75V，在Y400处能够测到15.36MHZ，
当测到由U600输出AP-CLK32K-OUT时，在经过R403之后信号消失，测R403阻值无穷大，正常是100K,
换电阻一切正常
A780/E680 不开机维修方法1，大电流，B＋对地短路。⑴可能性最大是功放，拆下功放，
如果可以开机就判断功放被击穿。⑵电源被击穿，拆下电源块，查B＋对地电阻正常，可以判断是它坏。
功放被击穿一般伴随电源也被击穿。
2，加电漏电80mA左右，各电压正常，和电脑不联机，出现检查硬件，一般是PDA的CPU底层部分坏。
3，加电不漏电，按开机键电流到170mA左右回落，直接和电脑不联机，强制进入flash模式，可以和电脑联机，写完软件可以排除故障。如果升级出错，基本是BP出错，用48写入手机部分字库资料，再升级试试，做完软件可以正常开机。
如果升级仍出错，就要换手机部分字库再升级。
4，加电漏电100mA左右，查各路输出电压，发现供给AP部分的CPU的一路电压VAP－CORD（1.1V）无输出，查该电压的振荡电感L902已开路。换一好的电感L902后开机正常。
5，加电漏电240mA,查各路电压正常，手机部分的时钟、复位、片选信号都正常，应该在AP部分的问题，更换AP部分的CPU无效，换U603后正常。
E680不开机维修一例
故障现象：不开机。
维修方法：
1、同时按住下音量键和照相键并加电按开机键，进入flash模式，和电脑联机，但一升级就显示“wait for re-enumeration”，说明BP部分的引导区数据被破坏。
2、拆下手机部分的字库用48写，然后再升级不再报错，升级完手机正常开机。